XRF样品膜（X荧光光谱仪测试膜）

XRF测试（X射线荧光测试）是一种广泛应用于元素分析的 非破坏性测试技术。

它基于X射线与物质相互作用的原理，通过测量物质中荧光辐射的能量和 强度来确定样品中的元素组成和含量。

常用基材有：聚脂薄膜、聚丙烯薄膜

常用厚度有：2.5~6μm

常用宽幅75mm，30m/卷，一般使用1英寸卷芯；其他规格可按需定制分切

性能特点：

1、高柔韧性和耐用性：方便实用和存储，能承受多次使用，不易损坏；

2、抗化学腐蚀：不溶于有机溶剂，不会污染待测样品；

3、杂质含量低：确保检测结果准确可靠；

4、适用范围广：适用于各种类型的 X射线荧光光谱仪（XRF），如合金仪器、贵金属分析仪、ROSH检测仪、手持机、测厚仪等。

应用领域：

1、用于金属和合金的化学成分分析；

2、用于快速分析矿石样品中各种元素的含量，帮助矿产资源勘探和评估。同时，也用于矿物学研究和地质勘探中的矿物鉴定；

3、用于环境监测中，可快速确定样品中存在的有害元素或污染物，提供环境质量评估和监测数据；

4、用于药品和食品中有害元素的检测，确保药品和食品生产安全；

5、还可应用于建筑材料分析、考古学、煤炭和能源领域等。